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顯微分光光度計顯微光譜系統/紫外分光光度計、顯微分光光度計、拉曼光譜儀、顯微紅外光譜儀-司法鑑定機構登記資質儀器設備
文件檢驗必備設備：特種文件鑑定、篡改（污損）文件鑑定、朱墨時序鑑定
顯微光譜系統具有高兼容性、低成本、覆蓋光譜範圍廣、采樣面積小的特點，可以進行紫外－可見光－紅外光譜段的反射分析，透射分析，熒光分析和偏振分析。顯微光譜系統目前已在微納光學、材料學、生物技術、礦物分析、刑偵技術、司法鑑定、紙幣防偽等領域得到廣氾應用。
優勢：顯微光譜測量系統是一套能夠實現微米級樣品光譜採集的儀器，將紫外－可見分光光度計的檢測範圍有效延伸到了微納光學領域，借助顯微鏡和微型光纖光譜儀的獨特優勢開拓性的研製了新一代的顯微光譜測試系統，設備成為這一光譜研究領域內 的測試平台。
檢測樣本：
纖維、毛毯，服裝，傢具，繩索，毛髮等、塗料、汽車油漆，刮擦層，美朮顏料等微量物証檢驗
文件、紙張，錢幣，墨水，墨粉，印泥、 、膠帶、化妝品、唇膏，指甲油等痕跡物証檢驗
司法鑑定所文書鑑定文件技術鑑定實驗室標準配備設備：增加不同模塊可同時完成文件檢驗中紫外分光光度計、顯微分光光度計、拉曼光譜儀、顯微紅外光譜儀等各項工作需求，進行文件相對形成時間鑑定、文字相對書寫時間鑑定、印章印文相對形成時間鑑定、朱墨時序相對時間鑑定等檢驗
產品特點：
操作簡便：顯微鏡下成清晰像定位，可快速檢測
微區定位：利用共焦原理，實現微小區域的樣品定位和光譜採集
測量能力強：同步原位採集樣品光譜信息和成像信息
擴展功能多：可定製透反射、熒光以及拉曼光譜、Mapping測量
便攜維護：微型光譜儀可以插拔做其它檢測用途，維護簡單和使用便攜
技術參數:
尺寸：157 x 115 x41 mm3
光度計：769g
探測器名稱：Hamamatsu S10420-1106-01
探測範圍：200-1100 nm
像素數量：All: 2068×70pixels；Active：2048×64pixels
像素大小：14×14 m2
光學平台：整體設計 交叉C-T
焦距大小：100mm
狹縫尺寸：10,25,50,100,200m
光柵：多種規格可選
專用軟件：鑑定文書自動生成系統軟件、具有長度、角度、面積等尺寸測量功能、光譜分析專用軟件
消高階濾光片：LVF-41-1；SLF-41-365-1；SLF-41-457-1；SLF-41-550-1
前置濾光片：OF-LP-01，OF-LP-02
光纖接頭：NA0.22的SMA905光纖接頭
波長範圍：200-1100nm
光學分辨率：0.2-8nm
信噪比：450:1
A/D位數：16 bits
暗噪聲：6 RMS
動態範圍：10000:1
積分時間：11ms~120 s
雜散光：0.1% @ 600nm
矯正線性度：>99%
電學特性：200mA @5 VDC
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